1 　加速試驗概述
    當今，許多產品都能在嚴酷的環(huán)境應力下*地運轉上千小時，為了確認設計缺陷或者驗證預計的壽命，傳統(tǒng)的試驗方法已經不再勝任。人們開始研究先進的試驗方法與技術。

1.1 加速試驗的目的與特點
    進行加速試驗的目的可概括如下：
— 為了適應日益激烈的競爭環(huán)境；
— 在盡可能短的時間內將產品投入市場；
— 滿足用戶預期的需要。
    是一種在給定的試驗時間內獲得比在正常條件下（可能獲得的信息）更多的信息的方法。它是通過采用比設備在正常使用中所經受的環(huán)境更為嚴酷的試驗環(huán)境來實現(xiàn)這一點的。由于使用更高的應力，在進行時必須注意不能引入在正常使用中不會發(fā)生的故障模式。在中要單獨或者綜合使用加速因子，主要包括：
— 更高頻率的功率循環(huán)；
— 更高的振動水平；
— 高濕度；
— 更嚴酷的溫度循環(huán)；
— 更高的溫度。

1.2 分類
    主要分為兩類，每一類都有明確的目的：
— 加速壽命試驗--估計壽命；
— 加速應力試驗--確定（或證實）和糾正薄弱環(huán)節(jié)。
    這兩類之間的區(qū)別盡管細微，但卻很重要，它們的區(qū)別主要表現(xiàn)在下述幾個方面：作為試驗的基礎的基本假設、構建試驗時所用的模型、所用的試驗設備和場所、試驗的實施方法、分析和解釋試驗數據的方法。表1對這兩類主要的進行了比較。

表1 兩類主要的

1.3 的產品層次（級別）
    要明確進行的產品層次（級別）是設備級還是零部件級，這一點很重要。某些加速方法只適用于零件級的試驗，而有的方法只能用于較別的總成（設備），只有少數方法同時適用于零件級和總成（設備）級。對零件級非常合適的基本假設和建模方法在對較別的設備進行試驗時可能*不成立，反之亦然。表2列出了在兩個主要的級別（設備級和零部件級）上進行試驗的信息。

表2 進行的產品級別

2 模型
    模型將部件的失效率或者壽命與給定的應力起來，這樣，就可以用在中得到的度量來推斷正常使用條件下的性能。這里隱含的假設是應力不會改變失效分布的形式。
    表3總結了三種zui常見的模型，實際中使用的模型不止這三種。在選用模型時，zui關鍵的準則是所選用的模型能地把加速條件下的可靠性或壽命模擬成正常使用條件下的可靠性或壽命。在選擇zui適用的模型和在具體應用中為所選用的模型選擇適當的驗證范圍時必須十分小心。把上述選擇的依據用文件記錄下來是很重要的。

表3 常見的模型

三、先進的方案/思想
    過去，大多數都是使用單一應力和在定應力譜進行的。包括周期固定的周期性應力（如溫度在規(guī)定的上下限之間循環(huán)，溫度的上限和下限以及溫度的變化率是恒定的）。但是，在中，應力譜不必是恒定的，也可以使用多種應力的組合。常見的非恒定應力譜和組合應力包括：
— 步進應力譜試驗；
— 漸進應力譜試驗；
— 高加速壽命試驗（HALT）（設備級）；
— 高加速應力篩選（HASS）（設備級）；
— 高加速溫度和濕度應力試驗（HAST）（零件級）。

    高系統(tǒng)性地使用大大超過產品使用中預期水平的環(huán)境激勵，因此需要詳細理解試驗結果。高用于確認相關故障，并用來確保產品對高于所要求的強度有足夠的裕度以便能經受正常的使用環(huán)境。高的目的是大大減少暴露缺陷所需要的時間。該方法可用于研制試驗，也可用于篩選。

    HALT（高加速壽命試驗）是一個研制工具，而HASS（高加速應力篩選）是一個篩選工具。它們常常互相聯(lián)合使用。這是兩種相對較新的方法，與傳統(tǒng)的方法不同。HAL與THASS的具體目標是改進產品設計，將制造偏差和環(huán)境效應對產品性能和可靠性的影響減至zui小。通常定量的壽命或可靠性預計與高沒有。

    步進應力譜試驗。使用步進應力譜，試驗樣本首先按事先規(guī)定的時間以某個給定的應力水平試驗一段，然后在高一點的應力水平下再試驗一段時間。不斷增加應力水平繼續(xù)上面的過程，直到某個試驗樣本失效，或者試驗進行到zui大應力水平時終止。這種方法能更快速地使產品失效以便分析。但是，用這種方法很難正確建立加速模型，因此很難定量地預計產品在正常使用條件下的壽命。

    每一步中應該增加的應力量值與許多變量有關。但是，允許在設計中進行這樣的試驗的一個普遍的法則是：假設產品沒有缺陷，如果zui終能以適當的裕量超出預期的使用環(huán)境中的應力，就能保證總體中的每一個體都能經受住使用環(huán)境和篩選環(huán)境。（從而提高產品的壽命或可靠性）
漸進應力譜試驗。漸進應力譜或者"梯度試驗"是另一種常見的方法，試驗中應力水平隨時間持續(xù)增加。其優(yōu)點和缺點與步進試驗相同，但有另外一個困難，就是很難地控制應力增加的速率。

    HALT（高加速壽命試驗）。HALT一詞是Gregg K. Hobbs 于1988年提出的。HALT有時指應力增益壽命試驗（STRIFE），是一種研制試驗，是步進應力試驗的一種強化形式。它一般用來確認設計的薄弱環(huán)節(jié)和制造過程中存在的問題，以及用來增加設計強度的富裕量，而不用來進行產品壽命或可靠性的定量預計。 

    HASS（高加速應力篩選）試驗。HASS是加速環(huán)境應力篩選的一種形式。它代表了產品所經歷的zui嚴酷的環(huán)境，但通常持續(xù)很有限的一段時間。HASS是為達到"技術的根本極限"而設計的。此時應力的微小增加就會導致失效數的大量增加。這種根本極限的一個例子是塑料的軟化點。
    HAST（高加速溫度和濕度應力試驗）。隨著近來電子技術的高速發(fā)展，幾年前剛剛出現(xiàn)的的可能不再適應當今的技術了，尤其是那些專門針對微電子產品的。例如，由于塑料集成電路包的發(fā)展，現(xiàn)在用傳統(tǒng)的、普遍被接受的85℃/85%RH的溫度/濕度試驗需要花上千小時才能檢測出新式集成電路的失效。在大多數情況下，試驗樣本在整個試驗中不發(fā)生任何失效。不發(fā)生失效的試驗是說明不了什么問題的。而產品在使用中必定會偶爾失效。因此，需要進一步改進。HSAT就是為代替老的溫度/濕度試驗而開發(fā)的方法。
四、在中應當注意的問題 

    模型是對產品在正常應力水平下以及一個或多個加速應力水平下的關鍵因素進行試驗而導出的。在使用加速環(huán)境時一定要極其注意，以便識別和正確確認在正常使用中將發(fā)生的失效和一般不會發(fā)生的失效。因為加速環(huán)境一般都使用遠高于現(xiàn)場使用時所預期的應力水平，加速應力會導致在實際使用中不可能出現(xiàn)的錯誤的失效機理。例如，將受試產品的溫度升高到超過材料性能改變的溫度點或者休眠激活門限溫度時，就會導致在正常使用中不會發(fā)生的失效的發(fā)生。在這種情況下，解決這種失效只會增加產品的費用，可靠性卻不會有絲毫的提高。理解真正的失效機理來消除失效的根本原因才是極為重要的。

編譯者注：原文發(fā)表在美國國防部（DoD）可靠性分析中心（RAC）的出版物"Selected Topics in Assurance Related Technologies （START）"第6卷第4期上。作者是美國伊利諾伊理工學院研究所的工程師Ned H. Criscimagna。